서울중앙지검, 초고감도 이미지 센서 기술 개발 외부 유출 기소

국가가 100억원을 지원해 개발한 나노 공학 관련 기술을 빼돌린 정부 산하 연구기관 소속 연구원 등이 검찰에 적발돼 기소됐다.

  
서울중앙지검 첨단범죄수사부는 8일 초고감도 이미지 센서 기술을 외부에 유출한 혐의(부정경쟁방지및영업비밀보호에관한법률 위반 등)로 산업자원부 산하 전자부품연구원 소속 연구원 박모(35)씨를 불구속 기소했다.

  
검찰은 또 박씨로부터 해당 기술을 넘겨받아 자신의 회사 명의로 특허를 출원하려 한 혐의로 반도체 기술 관련 회사인 I사 대표 박모(45)씨와 이사 한모(40)씨도 불구속 기소했다.

  
검찰에 따르면 박 연구원은 2005년 4월 전자부품연구원에서 다른 연구원들과 함께 개발한 이미지 센서 내 단위화소(픽셀) 기술이 반영된 `발명ㆍ고안 명세서'를 I사측에 e-메일로 넘겨 준 혐의를 받고 있다.

  
박연구원은 또 이미지 센서 관련 기술 연구를 위탁받아 수행하고 있던 모 국립대학 전자공학과 소속팀과 공동 연구를 통해 2004년 세미나에서 발표했던 '단위화소 개발기술 회로도' 등을 I사에 유출한 혐의도 받고 있다.

  
박대표 등은 박 전 연구원이 보낸 자료들을 토대로 I사 소속 연구원이 발명자로 돼 있는 특허출원서류를 작성한 뒤 특허청에 접수한 혐의를 받고 있다.

  
조사결과 나노 이미지 센서 기술은 극소량의 광원만 있어도 촬영이 가능토록 하는 첨단 기술로, 2000년부터 5년간 산자부와 정보통신부 공통 국책과제로 선정돼 100억원의 연구비를 지원받아 개발된 것으로 나타났다.

  
이 기술은 2003년 12월 연구원측과 정식으로 계약을 체결한 P사에 이전되기로 돼 있었지만 원천 기술이 만들어진 뒤 양산 기술을 만드는 단계에서 계약 대상이 아니었던 I사측에 유출됐다고 검찰은 설명했다.

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