환경과학원, 반도체·디스플레이 온실가스 공정시험기준 개정
[이투뉴스] 국립환경과학원(원장 김동진)은 반도체 및 디스플레이 업종의 온실가스 배출량 및 감축량을 정확하게 산정할 수 있도록 개정한 온실가스 공정시험기준을 12일 공개했다. 반도체 분야는 아산화질소, 수소불화탄소, 육불화황 등 다양한 온실가스를 배출한다.
반도체 및 디스플레이 분야는 수출 비중이 20%로 세계 시장점유율도 2위에 달하는 등 우리나라의 중요한 자산이다. 다만 온실가스 배출량이 지속적으로 증대하고 있어 탄소 감축 및 감축량을 산정할 수 있는 측정법 마련이 요구됐다.
환경과학원은 산업공정 배출가스 중에 포함된 아산화질소, 수소불화탄소, 과불화탄소, 육불화황, 삼불화질소의 농도를 적외선흡수분광법으로 측정해 온실가스 배출권거래제의 배출량 보고 및 인증에 적용할 수 있도록 온실가스 공정시험기준을 제정했다.
온실가스 공정시험기준은 사업장에서 배출되거나 대기 중에 존재하는 온실가스 농도를 정확하게 측정하는 데 필요한 시험방법을 규정했다. 이번 개정으로 반도체 및 디스플레이 업종에서 배출되는 온실가스 농도를 적외선흡수분광법으로 측정해 감축 활동에 대한 정량평가가 가능해졌다.
아울러 감축시설의 저감효율 측정뿐 아니라 공정 중에 쓰이는 온실가스(육불화황 등)의 사용비율을 평가하고, 이때 발생하는 부생가스(사불화탄소 등)에 대한 측정까지 가능해져 온실가스 배출량 측정이 정교해질 전망이다.
개정된 온실가스공정시험기준은 지난해 11월 행정예고를 통해 이해관계자 의견을 수렴했으며, 이후 수정안에 대해 관련 전문가 및 관계 기관 검토도 마쳤다. 온실가스공정시험기준은 환경과학원 누리집(nier.go.kr) 및 법제처 국가법령정보센터(law.go.kr)에서 누구나 확인할 수 있다.
유명수 환경과학원 기후대기연구부장은 “온실가스공정시험기준 개정은 반도체와 디스플레이 업종의 탄소중립 노력에 대한 정량평가 기준을 마련한 것”이라며 “앞으로도 이를 활용해 기술경쟁력과 온실가스 감축 기반을 확보하겠다”고 말했다.
채덕종 기자 yesman@e2news.com